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修改:功率器件必讀:SiC材料、工藝及功率器件簡介 | 求是緣半導(dǎo)體


SiC作為半導(dǎo)體器件中的重要材料,在高溫、功率、發(fā)光等領(lǐng)域都有著廣泛應(yīng)用。采用SiC 材料制成的MESFET、MOSFET、JFET、BJT等元件的工作溫度可達(dá)500℃以上,可提供工作于極端環(huán)境下的電子系統(tǒng);由于其具有較高的飽和電子速度以及高臨界擊穿場強(qiáng),也是良好的微波和高頻元件材料;采用SiC材料制造出的各種類型的MOS器件在耐壓指標(biāo)、溫度指標(biāo)上都達(dá)到了硅MOS器件無法達(dá)到的水平,是非常重要的功率器件類型。隨著SiC材料生長、器件制造技術(shù)的不斷成熟,將會有越來越多的SiC電子產(chǎn)品進(jìn)入應(yīng)用領(lǐng)域。


8月25日(周二)晚8:00~9:00,求是緣半導(dǎo)體聯(lián)盟的“全球在線互動”活動為張斌博士關(guān)于“SiC材料、工藝及其功率器件簡介”的線上主題演講,形式為:PPT+語音、問答討論環(huán)節(jié)。以下為線上分享的PPT及問答內(nèi)容:







問答討論環(huán)節(jié):


Q1:在工藝中,為什么SiC的歐姆接觸難做?


因為禁帶寬度太大,任何金屬與它接觸都會有1eV的肖特基勢壘高度,因此做肖特基接觸容易,做歐姆接觸難。


Q2:請教JBS結(jié)構(gòu)的肖特基器件歐姆接觸不好是否會影響漏電?請問JBS耐高壓的難點是什么,是位錯嗎?


歐姆接觸不好并不是影響漏電,而是影響器件的導(dǎo)通電阻,這在硅器件中也是一樣的。對于硅器件來說,歐姆接觸不是什么問題,但對于碳化硅器件卻是大問題,因為碳化硅的禁帶寬度是硅的3倍,這使所有金屬與碳化硅形成的肖特基勢壘高度就有1eV。


JBS器件要獲得高壓,首先所用的外延的電阻率和摻雜濃度是主要的因素。而器件的終端結(jié)構(gòu)也是保證其耐壓的必要條件。外延中的缺陷(如微管,位錯等)會導(dǎo)致器件性能變差,也包括耐壓降低,這是要盡量避免的。因此應(yīng)該在缺陷盡量少的外延上進(jìn)行器件的制作。


Q3:碳化硅IGBT量產(chǎn)了嗎?目前IGBT的減薄和背面注入工藝很難控制,不知道碳化硅生產(chǎn)工藝流程工藝最大難點是什么?


SiC IGBT還處于研發(fā)階段。碳化硅IGBT工藝難點,MOS溝道遷移率,背面的工藝也是難點之一。


Q4:浙大制作SiC器件的生產(chǎn)線是在哪里?SiC的市場容量會有多少美元?


我們在蘇州有一條研發(fā)線,美國能源部的一個材料顯示市場容量有80億美元。


Q5:SiC RF上的應(yīng)用介紹下啊,感覺做GaN和SiC的RF元件國內(nèi)做的少。


RF一般會用絕緣或半絕緣的碳化硅襯底,可以減少襯底有關(guān)的寄生電容。根據(jù)我的了解,做襯底的主要有西電、山東大學(xué)、中科院物理所、中電二所、山東天岳;國內(nèi)做碳化硅器件研究的單位也不多,ZJU、成電、西電、中科院微電所、半導(dǎo)體所、國網(wǎng)智能研究院、中電55所、南車。主要還是材料與設(shè)備都很貴,前段時間向CREE買了幾個做8000V器件的外延片,花了30幾萬。


Q6:SiC的IGBT和SiC之前的IGBT產(chǎn)品相比,主要電參數(shù)會超出多少?


這個沒有進(jìn)行過比較,但是在擊穿電壓上會相差很多。硅器件最高到6.5kV,碳化硅目前可以做到20kV。


Q7:我國在SiC上趕超另三強(qiáng)國(指美、日、德),需要哪些條件?請問目前CREE公司襯底與國內(nèi)各家相比主要優(yōu)勢在哪,是層位錯么,這個指標(biāo)對實現(xiàn)器件的影響是什么?


要趕超幾乎是不可能的,我的觀點有些悲觀。要趕上并接近國外的水平,我們還需要做很多事,比如需要有大資金的支持,SiC的價格目前還是比較硅貴很多,一片4寸的碳化硅外延片,要五六千美金,做這方面的研究很費錢。另外,CREE已經(jīng)很早就在碳化硅的材料上進(jìn)行布局,其專利壁壘很難繞過去,上游的壟斷必然使我們發(fā)展起來會比較被動。


襯底與外延的好壞直接影響其上面所作的器件的性能,這比硅材料的影響會更明顯。CREE公司的襯底在各項性能上都是有優(yōu)勢的,這也是它賣得貴的原因之一。襯底的性能不光表現(xiàn)在缺陷少,也包括襯底的厚度均勻性、雜質(zhì)摻雜均勻性以及wafer的翹曲度等。相關(guān)缺陷對器件的影響在我的PPT中可以找到。


嘉賓介紹

張斌

  • 浙江大學(xué)電氣工程學(xué)院電力電子器件實驗室博士后

  • 2005~2008年 杭州士蘭集成電路有限公司器件工程師、高級器件工程師

  • 1995.9~1999.7 南京化工大學(xué)材料系本科

  • 2002.9~2005.4 浙江大學(xué)材化學(xué)院碩士研究生

  • 2008.9~2013.12 浙江大學(xué)信電系博士研究生


主持人介紹

黃小偉

  • 浙大99級,電子科學(xué)與技術(shù)專業(yè)

  • 安華高科技(上海)有限公司,擔(dān)任高級研究工程師,主要從事硬盤前置放大器芯片設(shè)計研發(fā)

  • 浙江大學(xué)微電子與固體電子學(xué)博士,求是緣半導(dǎo)體聯(lián)盟主要發(fā)起人之一


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